Podstawka
Ilość: 1 sztuka
.
Dane techniczne:
- Typ: testowa ZIF
- Ilość pin: 40
- Raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
- Raster: 2.54 mm
- Napięcie: < 50 V DC
- Prąd: 100 mA/styk
- Żywotność: min. 25.000 cykli
- Rezystancja styku: max. 50 mΩ
- Temperatura pracy: -25°C ÷ +70°C
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do pinów układów scalonych lub innych modułów.
.
.
002222