Podstawka testowa ZIF 16 pin
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo
wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.
raster pomiędzy rzędami: 7.62 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: < 50V DC
prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70