NIEZAWODNOŚĆ URZĄDZEŃ ELEKTRONICZNYCH

praca zbiorowa pod kierunkiem

Mieczysławy Prażewskiej

Wydawnictwo: WKŁ, 1987
Oprawa: miękka
Stron: 560
Stan: bardzo dobry (-), nieaktualne pieczątki

Książka jest przeznaczona dla inżynierów zajmujących się opracowywaniem, wytwarzaniem lub eksploatacją urządzeń elektronicznych. Starano się w niej pokazać niezawodność jako jedną z cech tych urządzeń, podkreślając jednocześnie jej specyficzność.

Książka obejmuje całość problemów związanych z badaniem i oceną niezawodności urządzeń elektronicznych, ujętych w zestaw przepisów i zasad przystosowanych do praktycznego ich stosowania. Podano wyjaśnienia i omówienia niezbędne, do zrozumienia problemu zapewniania urządzeniom elektronicznym wymaganego poziomu niezawodności.

SPIS TREŚCI:

Wstęp

1. Wprowadzenie
1.1. Specyfika problemów niezawodności
1.2. Matematyczne podstawy niezawodności
1.3. Aspekt ekonomiczny niezawodności

2. Zagadnienia ogólne
2.1. Pojęcia podstawowe
2.1.0. Uwagi ogólne
2.1.1. Pojęcia ogólne
2.1.2. Pojęcia związane ze zdatnością
2.1.3. Pojęcia związane z uszkodzeniem
2.1.4. Pojęcia związane z urządzeniem elektronicznym
2.1.5. Pojęcia związane z obsługą
2.1.6. Pojęcia związane z eksploatacją
2.1.7. Wskaźniki niezawodności
2.1.8. Wskaźniki trwałości
2.1.9. Klasyfikacja urządzeń elektronicznych
2.1.9.1. Klasyfikacja według naprawy
2.1.9.2. Klasyfikacja według przeznaczenia
2.1.9.3. Klasyfikacja według rodzaju pracy
2.1.9.4. Klasyfikacja według wielokrotności użytkowania
2.2. Rodzaje uszkodzeń
2.2.0. Uwagi ogólne
2.2.1. Mechanizm powstawania uszkodzeń
2.2.2. Uszkodzenia stopniowe i nagle
2.2.2.1. Uszkodzenia stopniowe
2.2.2.2. Uszkodzenia nagłe
2.2.3. Uszkodzenie parametryczne
Inne rodzaje uszkodzeń
2.2.4.1. Uszkodzenia wskutek nieprawidłowej eksploatacji
2.2.4.2. Uszkodzenia spowodowane naturalnym zużyciem
2.2.4.3. Uszkodzenia pierwotne i wtórne
2.2.4.4. Uszkodzenia częściowe
2.2.4.5. Uszkodzenia chwilowe
2.2.4.6. Uszkodzenia całkowite
2.2.4.7. Uszkodzenia katastroficzne
2.3. Powstawanie uszkodzeń
2.3.0. Uwagi ogólne
2.3.1. Stany fizyczne
2.3.2. Starzenie
2.3.2.1. Starzenie wstępne
2.3.2.2. Testy starzeniowe
2.3.2.3. Starzenie naturalne
2.3.3. Podstawowe naturalne procesy starzeniowe
2.3.4. Stochastyczny charakter procesów starzenia naturalnego

3. Niezawodność na etapach życia urządzenia elektronicznego
3.1. Etapy życia urządzenia elektronicznego
3.1.0. Uwagi ogólne
3.1.1. Projektowanie
3.1.1.1. Wymagania niezawodnościowe
3.1.1.2. Rola projektanta urządzenia elektronicznego
3.1.1.3. Etapy projektowania
3.1.2. Produkcja
3.1.2.1. Losowy charakter wyników produkcji
3.1.2.2. Proces produkcyjny
3.1.2.3. Zakłócenia procesu produkcyjnego
3.1.2.3.1.Rodzaje zakłóceń
3.1.2.3.2.Strumień zakłóceń
3.1.2.3.3.Zapobieganie zakłóceniom
3.1.2.4. Kontrola dostaw
3.1.2.5. Rola technologa
3.1.3. Eksploatacja
3.1.3.1. Początek okresu eksploatacji i okresu użytkowania
3.1.3.2. Sytuacje eksploatacyjne
3.1.3.3. Eksploatacja i użytkowanie
3.1.3.4. Współczynnik wykorzystania
3;1.3.4.1.Ocena a priori
3.1.3.4.2.Ocena a posteriori
3.1.3.5. Model matematyczny procesu eksploatacji
3.2. Niezawodność projektowana, potencjalna i eksploatacyjna
3.2.0. Uwagi ogólne
3.2.1. Kształtowanie niezawodności
3.2.1.1. Niezawodność .projektowana
3.2.1.2. Niezawodność potencjalna
3.2.1.3. Niezawodność eksploatacyjna
3.2.2. Wpływ zakłóceń na niezawodność
3.2.2.1. Wpływ zakłóceń na niezawodność potencjalną
3.2.2.2. Wpływ zakłóceń na niezawodność eksploatacyjną

4. Środowisko i narażenia środowiskowe
4.1. Ogólne pojęcia i definicje
4.2. Czynnik środowiskowy
4.2.0. Uwagi ogólne
4.2.1. Źródła czynników środowiskowych
4.2.1.1. Czynniki środowiskowe pochodzenia naturalnego
4.2.1.2. Czynniki środowiskowe pochodzenia sztucznego
4.2.2. Charakterystyka podstawowych czynników środowiskowych
4.2.2.1. Temperatura otoczenia
4.2.2.2. Wilgotność otoczenia
4.2.2.3. Ciśnienie atmosferyczne
4.2.2.4. Zanieczyszczenie atmosfery
4.2.2.5. Czynniki mechaniczne
4.2.2.6. Czynniki biotyczne
4.3. Środowisko obiektu technicznego
4.3.0. Uwagi ogólne
4.3.1. Rodzaje środowisk
4.3.1.1. Środowisko naturalne
4.3.1.2. Środowisko sztuczne
4.3.2. Środowisko urządzenia
4.3.2.1. Środowisko zewnętrzne urządzenia
4.3.2.2. Środowisko części składowych urządzenia
4.3.3. Warunki środowiskowe
4.3.3.1. Sposób formułowania wymagań
4.3.3.2. Znormalizowane warunki środowiskowe
4.4. Narażenia środowiskowe '
4.4.0. Uwagi ogólne
4.4.1. Charakter narażeń środowiskowych
4.4.2. Narażenia długotrwałe
4.4.2.1. Czas trwania narażenia
4.4.2.2. Nasilenie narażenia
4.4.2.3. Krytyczna wartość narażenia
4.4.3. Zakłócenia
4.4.3.1. Czas trwania zakłócenia
4.4.3.2. Liczba zakłóceń
4.4.4. Podział narażeń
4.4.4.1. Narażenia technologiczne
4.4.4.2. Narażenia probiercze
4.4.4.3. Narażenia eksploatacyjne
4.4.4.3.1.Narażenia transportowe
4,4.4.3.2.Narażenia występujące w czasie magazynowania
4.4.4.3.3.Narażenia występujące w czasie obsługi
4.4.4.3.4.Narażenia występujące w czasie normalnej pracy
4.4.5. Charakterystyka podstawowych narażeń środowiskowych
4.4.5.1. Temperatura podwyższona
4.4.5.2. Temperatura obniżona
4.4.5.3. Zmiany temperatury
4.4.5.4. Wilgotność względna duża
4.4.5.5. Narażenia mechaniczne
4.4.5.6. Niskie ciśnienie atmosferyczne
4.4.5.7. Narażenia elektryczne

5. Elementy
5.1. Ogólna charakterystyka trwałości
5.1.0. Uwagi ogólne
5.1.1. Definicja trwałości
5.1.2. Funkcje charakteryzujące trwałość
5.1.3. Wyznaczanie rozkładu trwałości
5.1.3.1. Empiryczny dobór modelu rozkładu trwałości
5.1.3.2. Modele rozkładu trwałości elementów wynikające z fizyki uszkodzeń
5.1.3.3. Modele niezawodności elementów półprzewodnikowych
5.1.3.4. Przykładowe modele probabilistyczne trwałości
5.1.4. Praktyczna przydatność modeli
5.2. Informacje o niezawodności elementów
5.2.0. Uwagi ogólne
5.2.1. Uszkodzenia elementów w różnych okresach życia
5.2.2. Używane wskaźniki niezawodności
5.2.2.1. Wskaźnik niezawodności a rodzaj uszkodzenia
5.2.2.2. Postać uszkodzeń katastroficznych
5.2.3. Intensywność uszkodzeń katastroficznych
5.2.3.1. Klasyfikacja elementów
5.2.3.2. Nominalna i rzeczywista intensywność uszkodzeń
5.2.3.3. Współczynniki korekcyjne
5.2.3.4. Obliczenie a priori wartości AL
5.2.4. Dane liczbowe
5.3. Bank danych
5.3.0. Uwagi ogólne
5.3.1. Ogólna charakterystyka banku informacji
5.3.2. Metodyczne zasady tworzenia banku informacji
5.3.3. Bank informacji o niezawodności elementów
5.3.3.1. Rodzaj i zakres informacji wejściowych
5.3.3.2. Rodzaj informacji wyjściowych

6. Konstrukcyjna i niezawodnościowa struktura urządzeń elektronicznych
6.1. Części składowe urządzeń elektronicznych
6.1.0. Uwagi ogólne
6.1.1. Kryteria podziału urządzeń elektronicznych na części składowe
6.2. Rezerwowanie
6.2.0. Uwagi ogólne
6.2.1. Rezerwowanie układowe
6.2.2. Rezerwowanie funkcjonalne
6.2.3. Rezerwowanie czasowe
6.2.4. Rezerwowanie informacyjne
6.2.5. Rezerwowanie parametryczne
6.2.6. Rezerwowanie obciążeniowe
6.3. Struktura niezawodnościowa urządzeń elektronicznych
6.3.0. Uwagi ogólne
6.3.1. Typy struktur niezawodnościowych
6.3.2. Sposoby opisu struktur niezawodnościowych
6.3.2.1. Klasyfikacja sposobów opisu struktur niezawodnościowych
6.3.2.2. Blokowy schemat struktury niezawodnościowej
6.3.2.3. Funkcja strukturalna
6.3.2.4. Inne sposoby opisu struktury niezawodnościowej

7. Matematyczne modele niezawodności urządzeń elektronicznych
7.0. Uwagi ogólne
7.1. Ogólny model niezawodności urządzeń elektronicznych
7.1.0. Uwagi ogólne
7.1.1. Urządzenia elektroniczne nienaprawiane
7.1.1.1. Wskaźniki niezawodnościowe
7.1.1.2. Klasy rozkładów czasu pracy
7.1.1.3. Wzory przybliżone
7.1.2. Urządzenia elektroniczne naprawiane z zerowym czasem naprawy
7.1.2.1. Wskaźniki niezawodnościowe
7.1.2.2. Wzory przybliżone
7.1.2.3. Wyznaczanie liczby zapasowych urządzeń elektronicznych
7.1.3. Urządzenia elektroniczne naprawiane z niezerowym czasem naprawy
7.1.3.1. Definicje wskaźników niezawodnościowych
7.1.3.2. Obliczanie wskaźników niezawodności
7.1.3.3. Sumaryczny czas pracy i naprawy
7.2. Model boolowski niezawodności urządzeń elektronicznych
7.2.0. Uwagi ogólne
7.2.1. Koherentne funkcje strukturalne
7.2.1.1. Formy zapisu funkcji strukturalnych
7.2.1.2. Minimalne ścieżki i przekroje
7.2.1.3. Dekompozycja modularna
7.2.2. Urządzenia elektroniczne nienaprawiane
7.2.2.1. Wzory ogólne
7.2.2.2. Wzory dla podstawowych struktur niezawodnościowych
7.2.2.3. Wzory przybliżone
7.2.2.4. Zastosowanie minimalnych ścieżek i przekrojów
7.2.3. Urządzenia elektroniczne naprawiane
7.2.3.1. Wzory ogólne
7.2.3.2. Wzory dla podstawowych struktur niezawodnościowych
7.2.3.3. Zastosowanie minimalnych przekrojów
7.2.3.4. Urządzenia elektroniczne o szeregowej strukturze niezawodnościowej
7.3. Urządzenia elektroniczne o niejednocześnie pracujących częściach składowych
7.3.0. Uwagi ogólne
7.3.1. Urządzenia elektroniczne nienaprawiane
7.3.1.1. Urządzenia elektroniczne o strukturze przekaźnikowej
7.3.1.2. Urządzenia elektroniczne o strukturze progowo-przekaźnikowej
7.3.2. Urządzenia elektroniczne naprawiane

8. Obliczanie wskaźników niezawodnościowych urządzeń elektronicznych
8.1. Zasady obliczeń
8.1. Wzory na obliczanie wskaźników niezawodności grup z rezerwą
8.2. Przykłady obliczeń

9. Ogólne zasady projektowania niezawodności urządzeń
9.1. Uwagi o prognozowaniu wskaźników niezawodności
9.2. Niezawodnościowa analiza i synteza urządzenia
9.2.0. Uwagi ogólne
9.2.1. Założenia
9.2.2. Zadania poszczególnych etapów projektowania
9.2.2.1. Projekt koncepcyjny (studialny)
9.2.2.2. Projekt wstępny
9.2.2.3. Projekt techniczny
9.2.3. Procedury projektowania
9.2.4. Podział wymagań przy procedurze
9.2.4.1. Średni czas poprawnej pracy
9.2.4.2. Średni czas naprawy
9.2.5. Wstępna ocena wskaźników niezawodności
9.2.5.1. Średni czas poprawnej pracy
9.2.5.2. Średni czas naprawy
9.2.6. Ogólne zasady doboru struktury niezawodnościowej UE

10. Badanie niezawodności
10.1. Organizacja badań
10.1.0. Uwagi ogólne
10.1.1. Przygotowanie badania
10.1.2. Ogólne zasady prowadzenia badania
10.1.2.1. Zespół badawczy
10.1.2.2. Program badania
10.1.2.3. Rejestracja i przygotowanie informacji
10.1.2.4. Rodzaj informacji wyjściowych
10.2. Badania
10.2.0. Uwagi ogólne
10.2.1. Klasyfikacja badań
10.2.2. Kontrolne badania niezawodności
10.2.3. Badania eksploatacyjne
10.2.3.1. Kontrolowane badania eksploatacyjne
10.2.3.2. Niekontrolowane badania eksploatacyjne
10.2.4. Badania określające
10.2.5. Rodzaje badania na etapach życia urządzenia
10.2.5.1. Prototyp .
10.2.5.2. Seria próbna
10.2.5.3. Produkcja seryjna
10.3. Obróbka danych
10.3.0. Uwagi ogólne
10.3.1. Statystyczne sprawdzenie zgodności rozkładu
10.3.1.1. Rozkład wykładniczy
10.3.1.2. Rozkład logarytmo-normalny
10.3.2. Metoda obróbki danych z badań kontrolnych
10.3.2.1. Sekwencyjna metoda oceny średniego czasu poprawnej pracy między uszkodzeniami
10.3.2.2. Ocena średniego czasu naprawy
10.3.3. Metoda obróbki wyników badań określających
10.3.3.1. Czas poprawnej pracy
10.3.3.2. Czas naprawy

11. Wykaz dokumentów normalizacyjnych
11.1. Uwagi ogólne
11.2. Dokumenty krajowe — PN, BN
11.3. Dokumenty Międzynarodowej Komisji Elektrotechnicznej — IEC
11.4. Dokumenty RWPG — ST-SEV, MS
11.5. Dokumenty bułgarskie — BDS
11.6. Dokumenty brytyjskie — BS, DD
11.7. Dokumenty czechosłowackie — ĆSN
11.8. Dokumenty RFN — DIN, VDI, VDE
11.9. Dokumenty radzieckie — GOST
11.10. Amerykańskie dokumenty wojskowe — MIL-STD, MIL-HDBK !
11.11. Dokumenty francuskie — NF, UTE
11.12. Dokumenty rumuńskie — STAS
11.13. Dokumenty NRD — TGL
11.14. Indeks rzeczowy
12. Słownik podstawowych pojęć niezawodności
12.1. Uwagi ogólne
12.2. Zestawienie pojęć

Literatura

Dodatek A. Bibliografia