About the Author
Dr. James Wayman and Prof. Anil Jain are two of the leading experts in the field. Dr. James Wayman is the Director of the US National Biometric Test Center.
- Typ Okładki: Twarda oprawa
- Wydawnictwo: Springer
- Autor: James L. Wayman,Anil K. Jain,Davide Maltoni
- Język książki: Angielski
- Rozmiar: 15.7 x 2.8 x 23.4 cm
- Ilość stron: 392
- Data premiery: 2005-02-03
James L. Wayman Biometric Systems Technology, Design and Performance Evaluation - kliknij po więcej informacji